透射电镜检测飞秒检测 成分分析配方检测

透射电子显微镜(TEM)： 由于受电镜高压限制，透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄（离子和双喷减薄等）和**薄切片法。一般

情况下，需要采用物理减薄法的样品制备过程。**薄切片样品的制备，需经样品前处理、包埋、 切片等复杂工序。

飞秒检测作为国内的配方技术服务公司，拥有尖端的技术研发平台、雄厚的科研技术力量以及精密的高科技仪器设备；成立至今，其下属飞秒检测中心已经为包括**下属单位在内众多企业客户提供一系列产品的配方分析服务，成功地为企业解决在研发中遇到的难题，突破多领域技术瓶颈；并且与化工行业多家有规模企业建立长期技术合作；飞秒检测下属材料研发中心拥有强大的技术研发团队：由多位985、211高校背景研发工程师组成外围*团队；在新材料尖端领域已申请多项**，协助企业成功*出数项高端产品，缩短了某些领域与西方发达国家技术上的差距。

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