晶体结构分析飞秒检测 配方分析成分检测

XRD原理：X射线衍射仪 (X-ray diffraction )：X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。 

作用：理论可以定性定量元素周期表中的各种元素，一般Be-U 

分析步骤：

（1）制备待分析物质样品；

（2）用衍射仪法或照相法获得样品衍射花样； 

（3）检索PDF卡片；

（4）核对PDF卡片与物相判定。

1969年成立了国际性组织“粉末衍射标准联合会(JCPDS)”，由它负责编辑出版“粉末衍射卡片”，称PDF卡片。为方便、*查对PDF卡片，JCPDS编辑出版了多种PDF卡片检索手册。

进行物相定性分析时，一般采用粉末照相法或粉末衍射仪法测定所含晶体的衍射角，根据布拉格方程，进而获得晶面间距d及各衍射线的相对强度，最后与标准衍射花样(JCPDS)进行比较鉴别。

XRD定量分析的依据是：各相衍射线的强度随该相含量的增加而增加（即物相的相对含量越高，则X衍射线的相对强度也越高）。 

常用的定量方法：外标法、内标法

内标法： 内标法是一种间接或相对的校准方法。在分析测定样品中某组分含量时，加入一种内标物质以校谁和消除出于操作条件的波动而对分析结果产生的影响，以提高分析结果的准确度。

 外标法：用待测组分的纯品作对照物质，以对照物质和样品中待测组分的响应信号相比较进行定量的方法称为外标法。是常用的标准曲线法。

材料状态鉴别

不同的物质状态对X射线的衍射作用是不相同的，因此可以利用X射线衍射谱来区别晶态和非晶态。 

一般非晶态物质的XRD谱为一条直线 

微晶态具有晶体的特征，但由于晶粒小会产生衍射峰的宽化弥散，而结晶好的晶态物质会产生尖锐的衍射峰 

Q: XRD跟XRF什么区别?

A: XRF是元素分析, 可以给出样品中元素的相对含量. XRD是物相分析, 检测样品中的晶体结构及其含量. 两者通常可以相互验证.

Q: XRD能做什么?

A: XRD (X 射线衍射) 是目前研究晶体结构 (如原子或离子及其基团的种类和位置分布, 晶胞形状和大小等) 较有力的方法. XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异, 它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度以至衍射峰形上就显现出差异。通过检查样品的 X 射线衍射图以及与已知的晶态物质的 X 射线衍射谱图的对比, 便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定; 通过对样品衍射强度数据的分析计算, 可以完成样品物相组成的定量分析. XRD 还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向 (材料的织构)以及材料中应力测量等, 应用面十分普遍、广泛。

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